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產(chǎn)品展示
產(chǎn)品分類
PRODUCT激光粒度儀
噴霧粒度儀
x射線衍射儀
x射線熒光光譜儀
納米粒度電位儀
在線粒度分析儀
納米顆粒跟蹤分析儀
熔樣機
微量熱儀
顆粒圖像分析儀
多檢測器凝膠色譜系統(tǒng)
其它工業(yè)過程控制
分子相互作用儀
推薦展示
馬爾文帕納科臺式XRF能譜儀一體機Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器,其包括光譜儀、內(nèi)置計算機、觸摸屏和分析軟件。 Epsilon 1 采用激發(fā)和檢測技術(shù)的新成果,是低成本小型...
馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer Ultra 是用于測量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統(tǒng),在結(jié)合了 Zetasizer Pro 和 Lab 所有特性和優(yōu)點的基礎(chǔ)上,增加了多角度動態(tài)...
Zetasizer Pro馬爾文帕納科納米粒度電位儀是一款功能強大、用途廣泛的常規(guī)實驗室測量解決方案,可測量顆粒粒度、分子大小、電泳遷移率、Zeta 電位和分子量。 與以往型號相比,其粒度測量速度超過...
納米粒度儀即使作為入門級納米粒度及Zeta電位分析儀,Zetasizer Lab 的功能也不容小覷。 馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer Lab 采用經(jīng)典動態(tài)光散射(90°),包含...
公司簡介
使用我們的技術(shù)可以測量顆粒粒度、形狀和濃度、化學(xué)名稱、Zeta電位、蛋白質(zhì)電荷、分子量、質(zhì)量和構(gòu)象、分子間相互作用和穩(wěn)定性、元素濃度、晶體結(jié)構(gòu),元素及物相等參數(shù)。這些信息對于預(yù)測產(chǎn)品在使用過程中的表現(xiàn)、優(yōu)化其性能,從而實現(xiàn)高效制造至關(guān)重要。作為思百吉集團成員,馬爾文帕納科(中國)共有8個辦事處,總部位于上海,其他辦事處包括北京、廣州、武漢、沈陽、西安、深圳和成都。上海建有1600多平方米的粒度,形貌,X射線,GPC等設(shè)備的專業(yè)實驗室,完善的實驗室設(shè)備可以提供客戶售前測樣及其售后培訓(xùn)的配套服務(wù)與優(yōu)...
News
激光噴霧粒度儀是一種高精度儀器,專門用于測量微米級顆粒的粒度分布。基于激光散射原理工作。當(dāng)一束激光照射到噴霧中的顆粒時,顆粒會對激光產(chǎn)生散射。散射光的強度和角度與顆粒的大小、形狀、折射率等因素有關(guān)。通過測量不同角度上的散射光強度,可以得到顆粒的粒度分布信息。激光噴霧粒度儀通常由激光器、探測器、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等部分組成。激光器發(fā)出激光,經(jīng)過聚焦后照射到正在噴霧的顆粒上。產(chǎn)生的散射光被探測器接收,并轉(zhuǎn)換為電信號。數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)則對電信號進行處理和分析,最終得出顆粒的粒度分布、平均粒徑...
X射線衍射儀是一種重要的分析儀器,其基本原理是利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來分析材料的晶體結(jié)構(gòu)。當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時,由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級,故由不同原子散射的X射線相互干涉,在某些特殊方向上產(chǎn)生強X射線衍射。衍射線在空間分布的方位和強度與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān),每種晶體所產(chǎn)生的衍射花樣都反映出該晶體內(nèi)部的原子分配規(guī)律。X射線衍射儀其操作要領(lǐng):一、準(zhǔn)備工作檢查設(shè)備:確保X射線衍射儀處于良好工作狀態(tài),各部件連...
納米顆粒跟蹤分析儀是一種先進的物理性能測試儀器,主要用于材料科學(xué)和生物學(xué)領(lǐng)域,能夠精準(zhǔn)測量納米顆粒的濃度、粒徑分布以及動力學(xué)過程。其利用光散射和布朗運動的特性,通過激光光束穿過樣本室并沿光束散射光的路徑穿過懸浮液中的顆粒,實現(xiàn)顆粒的可視化。攝像頭捕捉布朗運動下移動顆粒的視頻文件,軟件單獨追蹤多個顆粒并利用愛因斯坦方程式計算顆粒的流體力學(xué)直徑。同時,該技術(shù)還可以提供顆粒的濃度信息和粒徑分布數(shù)據(jù)。為了確保其長期穩(wěn)定運行和測量結(jié)果的準(zhǔn)確性,維護保養(yǎng)工作至關(guān)重要。以下是納米顆粒跟蹤分...
x射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。其基本原理是利用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出次級X射線,即X射線熒光。當(dāng)這些高能射線與樣品中的原子相互作用時,會將原子內(nèi)層的電子擊出,導(dǎo)致外層電子躍遷到內(nèi)層。當(dāng)外層電子返回基態(tài)時,會釋放出特征X射線,這些特征X射線的能量或波長與元素的種類有關(guān)。通過檢測這些特征X射線,可以確定樣品中存在的元素種類及其含量。為了確保操作的準(zhǔn)確性和安全性,以下是x射線熒光光譜儀詳細(xì)的操作事項:1、準(zhǔn)備工作檢查電源和冷卻系統(tǒng):確保X射線...
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